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Español9201(表面絶縁抵抗(SIR)ハンドブック)
IPC-9201 : 表面絶縁抵抗に関するハンドブック
生産工程の各特性評価試験、温度/湿度試験、THB試験を含むSIR試験
本ハンドブックは、表面絶縁抵抗（SIR）試験は、生産工程（ソルダマスク、はんだ付用フラックス、コンフォーマルコーティングなど）の特性評価試験のみならず、電子組立品の生産工程の各段階における電気化学反応の試験にも用いられるツールである。このハンドブックでは温度/湿度（TH）試験や温度/湿度/バイアス（THB）試験を含むSIR試験について、その専門用語、理論、試験手順、テストビークルに焦点をあて記述している。また、故障モードやトラブルシューティングに関する考察についても述べている。なお本リビジョンAでは、SIRに利用できるテストビークル（業界で開発されたもの）、およびチャンバーのセットアップに関する考察を大幅に拡大して記載している。
IPC-9201のサンプル
最新日本語版バージョン：A版
更新年：2007年
全96ページ
IPC-9201 タスクメンバー抜粋
David C. Adams, Rockwell Collins
Paul A. Berry, P.E., Dow Corning Corporation
Rick Carlson, Taiyo America Inc.
Gordon Davy, Northrop Grumman Corp.
Thomas G. Farrell, Underwriters Labs
Christopher Hunt, Ph.D., National Physical Laboratory
Prakash Kapadia, Celestica Intl.
更新年：2007年
全96ページ
IPC-9201 タスクメンバー抜粋
David C. Adams, Rockwell Collins
Paul A. Berry, P.E., Dow Corning Corporation
Rick Carlson, Taiyo America Inc.
Gordon Davy, Northrop Grumman Corp.
Thomas G. Farrell, Underwriters Labs
Christopher Hunt, Ph.D., National Physical Laboratory
Prakash Kapadia, Celestica Intl.
Michael Moore, U.S. Army
Jason Koch, Robisan Laboratory Inc.
Graham Naisbitt, Gen3 Systems
Jan Obrzut, Ph.D., NIST
John M. Radman, Trace Laboratories
John H. Rohlfing, Delphi Electronics
Karl A. Sauter, Sun Microsystems
Lowell Sherman, Defense Supply Center
Hans L. Shin, Pacific Testing Labo
Vicka White, Honeywell Inc. 他多数
Jason Koch, Robisan Laboratory Inc.
Graham Naisbitt, Gen3 Systems
Jan Obrzut, Ph.D., NIST
John M. Radman, Trace Laboratories
John H. Rohlfing, Delphi Electronics
Karl A. Sauter, Sun Microsystems
Lowell Sherman, Defense Supply Center
Hans L. Shin, Pacific Testing Labo
Vicka White, Honeywell Inc. 他多数
