J-STD-002：はんだ付け性試験（部品）

部品リード、電極、ラグ、端子およびワイヤーのはんだ付け性試験

IPC-J-STD-002は、電子部品のリード、ターミネーション、単線、より線、ラグ、およびタブのはんだ付け性を評価するための試験方法、欠陥の定義、許容基準を規定し、またイラストを示すものである。

また、IPC-J-STD-002の規格には、はんだ食われ/はんだはじきに対する耐性の試験方法も含まれている。IPC-J-STD-002はサプライヤーおよびユーザーの両者による使用を目的としている。

IPC-J-STD-002Eの規格は次の三つの組織によって開発された：IPC、ECIA (電子部品産業協会)、JEDEC(半導体技術協会)。

本規格は、エレクトロニクス業界内で採用されるはんだ付け性試験の要求事項と試験方法を規定する2つの基準のうちの1つである。もう1つは、プリント基板側のはんだ付性について言及している。

IPC J-STD-003プリント基板のはんだ付け性試験

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